A DEVICE FOR MEASURING SPECTRAL REFLECTANCE ON THIN-LAYER PLATES WITH A ZEISS SPECTROPHOTOMETER

被引：3

作者：

DEGALAN, L

VANLEEUW.J

CAMSTRA, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/S0003-2670(01)81694-9

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：395 / &

共 7 条

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