CHARACTERIZATION AND TESTING OF PHYSICAL FAILURES IN MOS LOGIC-CIRCUITS (REPRINTED FROM INTERNATIONAL TEST CONFERENCE PROCEEDINGS, OCTOBER, 1983)

被引：15

作者：

BANERJEE, P

ABRAHAM, JA

机构：

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1984年 / 1卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1984.5005655

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：76 / 86

页数：11

共 13 条

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