MEASUREMENT OF THE TUNNELING AND HOPPING PARAMETERS IN RUO2 THICK-FILMS

被引:8
作者
HALDER, NC
SNYDER, RJ
机构
来源
ELECTROCOMPONENT SCIENCE AND TECHNOLOGY | 1984年 / 11卷 / 02期
关键词
D O I
10.1155/APEC.11.123
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:123 / 136
页数:14
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