APPLICATION OF THIN-FILM DTA TO AMORPHOUS SELENIUM LAYERS

被引：5

作者：

PRZYLUSKI, J

PLOCHARSKI, J

BUJWAN, W

机构：

来源：

JOURNAL OF THERMAL ANALYSIS | 1981年 / 21卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1007/BF01914206

中图分类号：

O414.1 [热力学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：235 / 238

页数：4

共 7 条

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[No title captured]