PARTICLES IN PARAFFIN SECTIONS DEMONSTRATED IN THE BACKSCATTERED ELECTRON IMAGE (BEI)

被引：16

作者：

CROCKER, PR ^{[1
]}

TOULSON, E ^{[1
]}

LEVISON, DA ^{[1
]}

机构：

[1] JEOL UK LTD,LONDON,ENGLAND

来源：

MICRON | 1982年 / 13卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0047-7206(82)90095-4

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：437 / 446

页数：10

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共 3 条

[1]

ABRAHAM JL, 1979, SCANNING ELECTRON MI, V2, P751

[2] A PRACTICAL METHOD FOR THE IDENTIFICATION OF PARTICULATE AND CRYSTALLINE MATERIAL IN PARAFFIN-EMBEDDED TISSUE SPECIMENS [J].

CROCKER, PR ;

DOYLE, DV ;

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JOURNAL OF PATHOLOGY, 1980, 131 (02) :165-173

[3]

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