STRUCTURE-ANALYSIS OF SPUTTER-COATED AND ION-BEAM SPUTTER-COATED FILMS - A COMPARATIVE-STUDY

被引：30

作者：

KEMMENOE, BH

BULLOCK, GR

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1983年 / 132卷 / NOV期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1983.tb04267.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：153 / 163

页数：11

共 22 条

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