PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPY OF WORK FUNCTION CHANGES

被引:35
作者
BETHGE, H
KLAUA, M
机构
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(83)90238-3
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页数:7
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