TOTAL INTERNAL-REFLECTION MICROSCOPY - INSPECTION OF SURFACES OF HIGH BULK SCATTER MATERIALS

被引：18

作者：

JABR, SN

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1985年 / 24卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.24.001689

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

收藏

页码：1689 / 1692

页数：4

相关论文

共 2 条

[1]

Jackson J. D., 1962, CLASSICAL ELECTRODYN, P271

[2] TOTAL INTERNAL-REFLECTION MICROSCOPY - A SURFACE INSPECTION TECHNIQUE [J].

TEMPLE, PA .

APPLIED OPTICS, 1981, 20 (15) :2656-2664