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REMOVAL OF GAS-PHASE IONS BY ENERGY SELECTION OF SECONDARY IONS
被引:9
作者
:
NAKAMURA, K
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI LTD,NAKA WORKS,KATSUTA,IBARAKI,JAPAN
NAKAMURA, K
TAMURA, H
论文数:
0
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0
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0
机构:
HITACHI LTD,NAKA WORKS,KATSUTA,IBARAKI,JAPAN
TAMURA, H
KONDO, T
论文数:
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0
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机构:
HITACHI LTD,NAKA WORKS,KATSUTA,IBARAKI,JAPAN
KONDO, T
机构
:
[1]
HITACHI LTD,NAKA WORKS,KATSUTA,IBARAKI,JAPAN
[2]
HITACHI LTD,NAKA BRANCH,CENT RES LAB,KATSUTA,IBARAKI,JAPAN
来源
:
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1974年
/ 13卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1143/JJAP.13.917
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页数:2
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[1]
ION MICROPROBE MASS ANALYZER
LIEBL, H
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LIEBL, H
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1967,
38
(13)
: 5277
-
&
[2]
ROUBEROL JM, 1968, 16 ANN ASTM C MASS S
[3]
TAMURA H, 1970, P INT C MASS SPECTRO, P205
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共 3 条
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LIEBL, H
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1967,
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