A PRECISION-MEASUREMENT TECHNIQUE FOR RESIDUAL POLARIZATION IN INTEGRATED-CIRCUIT CAPACITORS

被引：4

作者：

LEE, HS ^{[1
]}

HODGES, DA ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF BERKELEY,ELECTR RES LAB,BERKELEY,CA 94720

来源：

IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS | 1984年 / 5卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1109/EDL.1984.25969

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：417 / 420

页数：4

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共 7 条

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