ON THE TOPOLOGICAL TESTABILITY CONJECTURE FOR ANALOG FAULT-DIAGNOSIS PROBLEMS

被引：4

作者：

TOGAWA, Y ^{[1
]}

MATSUMOTO, T ^{[1
]}

机构：

[1] WASEDA UNIV,DEPT ELECT ENGN,TOKYO 160,JAPAN

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS | 1984年 / 31卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/TCS.1984.1085478

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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