未找到相关数据
S-PARAMETER CHARACTERIZATION OF GAAS GATE SISFETS AT LIQUID-NITROGEN TEMPERATURES
被引：4
作者：
KWARK, Y
SOLOMON, P
LATULIPE, D
机构：
来源：
PROCEEDINGS : IEEE/CORNELL CONFERENCE ON ADVANCED CONCEPTS IN HIGH SPEED SEMICONDUCTOR DEVICES AND CIRCUITS
|
1989年
关键词：
D O I：
10.1109/CORNEL.1989.79837
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
收藏
页码：208 / 217
页数：10
相关论文