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- [1] ELECTRICAL RESISTIVITY STUDY OF LATTICE DEFECTS INTRODUCED IN COPPER BY 1.25-MEV ELECTRON IRRADIATION AT 80-DEGREES-K[J]. PHYSICAL REVIEW, 1956, 103 (05): : 1193 - 1202MEECHAN, CJBRINKMAN, JA
A METHOD OF DETERMINING RATIO OF MIGRATION ENERGY OF LATTICE DEFECTS TO ORDER OF ANNEALING KINETICS
被引：8
作者：
EVANS, JH
机构：
来源：
PHYSICS LETTERS
|
1965年
/
17卷
/
02期
关键词：
D O I：
10.1016/0031-9163(65)90257-X
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
引用
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页码：105 / &
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