BUILT-IN SELF-TEST TECHNIQUES

被引：158

作者：

MCCLUSKEY, EJ

机构：

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1985年 / 2卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/MDT.1985.294856

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：21 / 28

页数：8

共 39 条

[1]

BARZILAI Z, 1981, IEEE T COMPUT, V30, P996, DOI 10.1109/TC.1981.1675744

[2] ADVANCED FAULT ISOLATION SYSTEM FOR DIGITAL LOGIC [J].

BENOWITZ, N ;

CALHOUN, DF ;

ALDERSON, GE ;

BAUER, JE ;

JOECKEL, CT .

[3]

BENOWITZ N, 1976, NAECON 76, P215

[4]

BRACK JW, 1979, MACHINE DESIGN FEB, P76

[5]

BREUER MA, 1976, DIAGNOSIS RELIABILIT, P291

[6]

CARTER WC, 1982, NOV INT TEST C IEEE, P75

[7]

CARTER WC, 1982, 12TH P INT S FAULT T, P289

[8]

CHAN AY, 1977, HEWLETT-PACKARD J, P9

[9]

CHIN C, 1984, 847 STANF U COMP SYS

[10]

CLARY JB, 1979, COMPUTER, V12, P49, DOI 10.1109/MC.1979.1658498