A PRACTICAL END-OF-LIFE MODEL FOR SEMICONDUCTOR-DEVICES

被引：10

作者：

ASH, MS ^{[1
]}

GORTON, HC ^{[1
]}

机构：

[1] TRW COMPONENTS INT,TORRANCE,CA 90503

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/24.46470

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：485 / 493

页数：9

共 12 条

[1]

ELOVICH SY, 1939, J PHYS CHEM-US, V13, P1775

[2]

ELOVICH SY, 1939, J PHYS CHEM UDSSR, V13, P1716

[3]

Jensen F., 1985, QUAL RELIAB ENG INT, V1, P13, DOI [10.1002/qre.4680010104, DOI 10.1002/QRE.4680010104]

[4]

MESSENGER GC, 1986, EFFECTS RAD ELECT SY, pCH6

[5]

MILLER LE, 1974, P IEEE, V62, P240

[6]

MIYAGAKI K, 1986, FINAL QUALIFICATION

[7]

PECK DS, 1974, P IEEE FEB

[8]

REYNOLDS FH, 1971, 9TH P ANN REL PHYS S

[9]

ROSE J, 1961, DYNAMIC PHYSICAL CHE, P714

[10]

THOMAS RE, 1964, 2ND P S PHYS FAIL CO