ANNEALING PROCEDURE FOR SELF-SCANNED DIODE-ARRAYS

被引：4

作者：

GORDON, RL ^{[1
]}

机构：

[1] BATTELLE MEM INST, PACIFIC NW LABS,RICHLAND,WA 99352

来源：

APPLIED OPTICS | 1976年 / 15卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.15.001909

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1909 / 1911

页数：3

共 6 条

[1]

CHOISSER JP, 1976, COMMUNICATION JAN

[2]

FRY PW, 1975, J PHYS E SCI INSTRUM, V8, P337, DOI 10.1088/0022-3735/8/5/001

[3]

Giffin C. E., 1974, International Journal of Mass Spectrometry and Ion Physics, V15, P437, DOI 10.1016/0020-7381(74)80041-0

SNOW, EH ;

GROVE, AS ;

FITZGERALD, DJ .

PROCEEDINGS OF THE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS, 1967, 55 (07) :1168-+

TULL, RG ;

CHOISSER, JP ;

SNOW, EH .

APPLIED OPTICS, 1975, 14 (05) :1182-1189

[6]

101 RET CORP APPL NO