OXYGEN PRECIPITATION AND GENERATION OF DISLOCATIONS IN SILICON

被引:180
作者
TAN, TY [1 ]
TICE, WK [1 ]
机构
[1] IBM CORP,DIV SYST PROD,ESSEX JUNCTION,VT 05452
来源
PHILOSOPHICAL MAGAZINE | 1976年 / 34卷 / 04期
关键词
D O I
10.1080/14786437608223798
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:615 / 631
页数:17
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