BAYESIAN NOTE ON RELIABILITY GROWTH DURING A DEVELOPMENT TESTING PROGRAM

被引：29

作者：

SMITH, AFM

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY | 1977年 / 26卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/TR.1977.5220195

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

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页码：346 / 347

页数：2

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共 3 条

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