THEORETICAL INFLUENCE OF SURFACE STATES AND BULK TRAPS ON THIN-FILM TRANSISTOR CHARACTERISTICS

被引：12

作者：

VANCALSTER, A ^{[1
]}

PAUWELS, HJ ^{[1
]}

机构：

[1] STATE UNIV GHENT,B-9000 GHENT,BELGIUM

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(75)90141-0

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：691 / 698

页数：8

共 7 条

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