HARDNESS ASSURANCE STATISTICAL METHODOLOGY FOR SEMICONDUCTOR-DEVICES

被引：11

作者：

ARIMURA, I ^{[1
]}

NAMENSON, AI ^{[1
]}

机构：

[1] USN,RES LAB,WASHINGTON,DC 20375

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1983.4333131

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：4322 / 4325

页数：4

共 9 条

ALEXANDER, DR ;

DURGIN, DL ;

RANDALL, RN ;

HALPIN, JJ .

[2]

ARIMURA I, 1982, HARDNESS ASSURED DEV

[3]

JOHNSTON AH, 1975, IEEE T NUCL SCI, V24, P393

[4] HARDNESS ASSURANCE CONSIDERATIONS FOR NEUTRON ENVIRONMENT [J].

MESSENGER, GC .

[5]

NAMENSON A, 1981, DNA5910F DNA REP

[6] HARDNESS ASSURANCE AND OVERTESTING [J].

NAMENSON, AI .

[7]

OWENS DB, 1963, SCR607 SAND CORP MON

[8]

PRICE WE, 1981, JPL8166 PUBL, V1

[9]

1977, HDLDS771 COMP RESP I