INTERFERENCE-ENHANCED RAMAN-SCATTERING FROM TIO2/SIO2 MULTILAYERS - MEASUREMENT AND THEORY

被引:10
作者
CRAIG, RA
EXARHOS, GJ
PAWLEWICZ, WT
WILLIFORD, RE
机构
来源
APPLIED OPTICS | 1987年 / 26卷 / 19期
关键词
D O I
10.1364/AO.26.004193
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
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页码:4193 / 4197
页数:5
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