A HIGH-TEMPERATURE STRAINING STAGE (300-1000 K) FOR A 200 KV MICROSCOPE

被引:4
作者
CARRARD, M
GUISOLAN, B
MARTIN, JL
机构
来源
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1983年 / 16卷 / 06期
关键词
D O I
10.1088/0022-3735/16/6/009
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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页数:3
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