共 2 条
- [1] OPTICAL MEASUREMENT OF FILM GROWTH ON SILICON AND GERMANIUM SURFACES IN ROOM AIR[J]. JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 1957, 104 (10) : 619 - 622ARCHER, RJ
- [2] PHILLIPS JC, 1962, P INT C PHYSICS SEMI
FINE STRUCTURE OF THE REFLECTIVITY SPECTRUM OF OF GE AND GASB IN THE NEAR ULTRA-VIOLET
被引：7
作者：
LUKES, F
SCHMIDT, E
机构：
来源：
PHYSICS LETTERS
|
1962年
/
2卷
/
06期
关键词：
D O I：
10.1016/0031-9163(62)90042-2
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
引用
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页码：288 / 289
页数：2
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