USE OF POLYA STATISTICS IN INVESTIGATIONS OF SECONDARY ELECTRON YIELDS FROM TARGET SURFACES

被引：6

作者：

DIETZ, LA

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1721097

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：1332 / &

共 5 条

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