EXTREMELY LOW-LEVEL X-RAY SPECTROMETER

被引：3

作者：

TAKAHASHI, H

MABUCHI, H

HAMAGUCHI, H

SHIMOKOSHI, F

机构：

[1] UNIV TOKYO,FAC SCI,DEPT PHYS,TOKYO,JAPAN

[2] UNIV TOKYO,FAC SCI,DEPT CHEM,TOKYO,JAPAN

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1975年 / 125卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(75)90282-7

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：293 / 299

页数：7

共 6 条

[1]

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[2]

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