AUTOMATION OF A FLAT CRYSTAL X-RAY SPECTROMETER FOR MEASURING PROTON-INDUCED X-RAYS

被引：1

作者：

GERETSCHLAGER, M ^{[1
]}

VOGL, G ^{[1
]}

机构：

[1] JOHANNES KEPLER UNIV LINZ,A-4045 LINZ,AUSTRIA

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1976年 / 134卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(76)90103-8

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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