APPLICATION OF THE SCANNING TUNNELING MICROSCOPE TO INSULATING SURFACES

被引:23
作者
JAKLEVIC, RC [1 ]
ELIE, L [1 ]
SHEN, W [1 ]
CHEN, JT [1 ]
机构
[1] WAYNE STATE UNIV,DEPT PHYS,DETROIT,MI 48202
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1988年 / 6卷 / 02期
关键词
D O I
10.1116/1.575393
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
引用
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页码:448 / 453
页数:6
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