DIRECT PHASE MEASUREMENT INTERFEROMETER WORKING AT 3.8 MU-M

被引：7

作者：

PRETTYJOHNS, KN

DEVORE, S

DERENIAK, E

WYANT, JC

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1985年 / 24卷 / 14期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.24.002211

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2211 / 2216

页数：6

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共 11 条

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