A FAST HIGH-RESOLUTION BEAM HODOSCOPE USING SILICON MICROSTRIP DETECTORS

被引：10

作者：

HEIJNE, E

JARRON, P

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1982.4335875

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：405 / 409

页数：5

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共 5 条

[1]

DANGELO P, NUCL INSTR METH

HEIJNE, EHM ;

HUBBELING, L ;

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