AES AND XPS DEPTH PROFILING CERTIFIED REFERENCE MATERIAL

被引：24

作者：

HUNT, CP

ANTHONY, MT

SEAH, MP

机构：

来源：

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS | 1984年 / 6卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/sia.740060211

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

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页数：2

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共 2 条

[1] HUNT CP, 1983, SURF INTERFACE ANAL, V5, P199, DOI 10.1002/sia.740050506
[2] SEAH MP, SURF SCI