A BAYES SEQUENTIAL SAMPLING INSPECTION PLAN

被引:30
作者
CHERNOFF, H
RAY, SN
机构
来源
ANNALS OF MATHEMATICAL STATISTICS | 1965年 / 36卷 / 05期
关键词
D O I
10.1214/aoms/1177699898
中图分类号
O1 [数学];
学科分类号
0701 ; 070101 ;
摘要
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页码:1387 / 1407
页数:21
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