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LOCATION OF SOURCE OF RECOMBINATION RADIATION IN GA(AS1-XPX) P-N JUNCTIONS BY ELECTRON BOMBARDMENT
被引:7
作者
:
WOLFE, CM
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WOLFE, CM
SIRKIS, MD
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SIRKIS, MD
NUESE, CJ
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NUESE, CJ
HOLONYAK, N
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HOLONYAK, N
GADDY, OL
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GADDY, OL
PURL, OT
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PURL, OT
KUNZ, WE
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KUNZ, WE
机构
:
来源
:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1965年
/ 36卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1714416
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:2087 / &
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共 2 条
[1]
RECOMBINATION SCHEME + INTRINSIC GAP VARIATION IN GAAS1-XPX SEMICONDUCTORS FROM ELECTRON BEAM + P-N DIODE EXCITATION (77 + 300 DEGREES K E)
CUSANO, DA
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CUSANO, DA
CARLSON, RO
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CARLSON, RO
FENNER, GE
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FENNER, GE
[J].
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1964,
5
(07)
: 144
-
&
[2]
HOLONYAK N, 1964, T METALL SOC AIME, V230, P276
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共 2 条
[1]
RECOMBINATION SCHEME + INTRINSIC GAP VARIATION IN GAAS1-XPX SEMICONDUCTORS FROM ELECTRON BEAM + P-N DIODE EXCITATION (77 + 300 DEGREES K E)
CUSANO, DA
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CUSANO, DA
CARLSON, RO
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CARLSON, RO
FENNER, GE
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FENNER, GE
[J].
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1964,
5
(07)
: 144
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&
[2]
HOLONYAK N, 1964, T METALL SOC AIME, V230, P276
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