USE OF INDEX OF REFRACTION LIQUIDS FOR THE MEASUREMENT OF THE REFRACTIVE INDEX OF THIN TRANSPARENT FILMS ON SILICON

被引：12

作者：

LEWIS, AE

机构：

来源：

JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY | 1964年 / 111卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1149/1.2426283

中图分类号：

O646 [电化学、电解、磁化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

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页码：1007 / 1009

页数：3

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共 2 条

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