RESULTS OF A 160X10-6 DEVICE-HOUR RELIABILITY ASSESSMENT AND FAILURE ANALYSIS OF TTL SSI INTEGRATED-CIRCUITS .1. TEST RESULTS AND ELECTRICAL FAILURE ANALYSIS

被引：7

作者：

KEMENY, AP

KALMAR, G

机构：

[1] IND RES INST ELECTR,BUDAPEST,HUNGARY

[2] TUNGSRAM WORKS LTD,BUDAPEST,HUNGARY

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1975年 / 14卷 / 5-6期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(75)90161-4

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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