SPECKLE PATTERN INTERFEROMETER

被引：7

作者：

DZIALOWSKI, Y ^{[1
]}

MAY, M ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV PARIS 06, INST OPT, F-75230 PARIS 05, FRANCE

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0030-4018(76)90142-5

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：321 / 325

页数：5

共 4 条

DUFFY, DE .

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DZIALOWSKI, Y ;

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[3]

KOPF U, 1974, IEEE, V36, P862

LEENDERTZ, JA .

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1970, 3 (03) :214-+