TESTING OF DETECTOR STRATEGIES IN SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY BY ISODENSITIES

被引：28

作者：

LANGE, M

REIMER, L

TOLLKAMP, C

机构：

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1984年 / 134卷 / APR期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1984.tb00499.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：12

共 20 条

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