CROSS-SECTIONAL TEM SPECIMENS OF METAL CONTACTS TO SEMICONDUCTORS

被引：15

作者：

IVEY, DG ^{[1
]}

PIERCY, GR ^{[1
]}

机构：

[1] MCMASTER UNIV,DEPT MAT SCI & ENGN,HAMILTON L8S 4L8,ONTARIO,CANADA

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE | 1988年 / 8卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/jemt.1060080215

中图分类号：

Q [生物科学];

学科分类号：

07 ; 0710 ; 09 ;

摘要：

引用

页码：233 / 235

页数：3

共 3 条

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