EVALUATION OF A CONTROLLED-TEMPERATURE FURNACE ATOMIZER AS A SAMPLING DEVICE FOR INDUCTIVELY COUPLED PLASMA-ATOMIC EMISSION-SPECTROMETRY

被引:36
作者
MATUSIEWICZ, H
BARNES, RM
机构
关键词
D O I
10.1016/0584-8547(85)80006-9
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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