A 60-NS 4-MBIT CMOS DRAM WITH BUILT-IN SELF-TEST FUNCTION

被引：11

作者：

OHSAWA, T ^{[1
]}

FURUYAMA, T ^{[1
]}

WATANABE, Y ^{[1
]}

TANAKA, H ^{[1
]}

KUSHIYAMA, N ^{[1
]}

TSUCHIDA, K ^{[1
]}

NAGAHAMA, Y ^{[1
]}

YAMANO, S ^{[1
]}

TANAKA, T ^{[1
]}

SHINOZAKI, S ^{[1
]}

NATORI, K ^{[1
]}

机构：

[1] TOSHIBA MICROCOMP ENGN CORP,SAIWAI KU,KAWASAKI 210,JAPAN

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/JSSC.1987.1052797

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：663 / 668

页数：6