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TEST-RESULTS ON AN EXPERIMENTAL CROSSTIE RANDOM-ACCESS MEMORY (CRAM)
被引：5
作者：
SCHWEE, LJ
HUNTER, PE
SALTON, FG
SHEPHARD, MT
机构：
关键词：
D O I：
10.1109/TMAG.1982.1062204
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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页码：1776 / 1778
页数：3
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