INDUCTION MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR + THIN-FILM RESISTIVITY

被引：9

作者：

POEHLER, TO

LIBEN, W

机构：

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1964年 / 52卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1964.3080

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：731 / &

相关论文

共 1 条

[1] MEASUREMENT OF ELECTRICAL RESISTIVITY OF BULK METALS [J].

ZIMMERMAN, J .

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1961, 32 (04) :402-&