INVESTIGATION OF THE STRUCTURAL DISORDER FLUCTUATIONS IN A-SI-H FILMS BY COUPLED X-RAY-DIFFRACTOMETRY AND PHOTODEFLECTION SPECTROSCOPY

被引：11

作者：

ESSAMET, M

HEPP, B

PROUST, N

DIXMIER, J

机构：

[1] THOMSON CSF,CENT RECH LAB,F-91401 ORSAY,FRANCE

[2] CNRS,PHYS SOLIDES LAB,F-92195 MEUDON,FRANCE

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0022-3093(87)90045-7

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

页码：191 / 194

页数：4

共 2 条

BOULITROP, F ;

BULLOT, J ;

GAUTHIER, M ;

SCHMIDT, MP ;

CATHERINE, Y .

DIXMIER, J ;

DEROUET, P ;

ESSAMET, M ;

LARIDJANI, M .

PHILOSOPHICAL MAGAZINE B-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STATISTICAL MECHANICS ELECTRONIC OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES, 1985, 52 (05) :943-954