EVALUATION OF SILICON VIDICON DETECTOR SENSITIVITY FOR ATOMIC SPECTROMETRY APPLICATIONS

被引:24
作者
HOWELL, NG [1 ]
MORRISON, GH [1 ]
机构
[1] CORNELL UNIV,DEPT CHEM,ITHACA,NY 14853
关键词
D O I
10.1021/ac50009a035
中图分类号
O65 [分析化学];
学科分类号
070302 ; 081704 ;
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页数:8
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