MEASUREMENT OF THIN-FILM PARAMETERS USING SUBSTRATE EXCITATION OF LEAKY MODES

被引：9

作者：

DING, TN

GARMIRE, E

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0030-4018(83)90368-1

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：113 / 115

页数：3

共 6 条

ADAMS, AC ;

SCHINKE, DP ;

CAPIO, CD .

[2] REFRACTIVE-INDEX OF A NATIVE OXIDE ANODICALLY GROWN ON GAAS [J].

BARNES, PA ;

SCHINKE, DP .

[3]

DING TN, UNPUB NEW TECHNIQUE

[4]

KERSTEN RT, 1975, OPT ACTA, V22, P503, DOI 10.1080/713819078

TIEN, PK ;

ULRICH, R ;

MARTIN, RJ .

[6] MEASUREMENT OF THIN-FILM PARAMETERS WITH A PRISM COUPLER [J].

ULRICH, R ;

TORGE, R .

APPLIED OPTICS, 1973, 12 (12) :2901-2908