IMPROVEMENTS OF THE EINDHOVEN PROTON MICROBEAM

被引：9

作者：

MUTSAERS, PHA

PRINS, M

VANDERHEIDE, JA

KLEIN, SS

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/S0168-583X(87)80216-1

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：648 / 651

页数：4

共 7 条

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