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CHANGES IN THICK-FILM RESISTOR VALUES DUE TO SUBSTRATE FLEXURE
被引：24
作者：
HOLMES, PJ
[1
]
机构：
[1] ROY AIRCRAFT ESTAB,RADIO DEPT,FARNBOROUGH,HAUPSHIRE,ENGLAND
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY
|
1973年
/
12卷
/
04期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(73)90335-1
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
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页码：395 / 396
页数：2
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