CARRIER LIFETIME MEASUREMENTS ON ELECTRON-IRRADIATED SILICON-CRYSTALS

被引：7

作者：

GRAFF, K ^{[1
]}

PIEPER, H ^{[1
]}

机构：

[1] AEG TELEFUNKEN,SEMICOND DIV,HEILBRONN,FED REP GER

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1975年 / 30卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210300220

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：593 / 599

页数：7

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共 8 条

BIELLEDASPET, D .

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