MICROWAVE EMMISSION FROM SUPERCONDUCTING POINT-CONTACTS - [SUPERCONDUCTING DIODES - EFFECT OF CONTACT PRESSURE - VOLTAGE STANDARDS - FUNDAMENTAL CONSTANT (E/H) MEASUREMENT - E]

被引:86
作者
DAYEM, AH
GRIMES, CC
机构
关键词
D O I
10.1063/1.1754595
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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