ELECTRONMICROSCOPY AND MICROANALYTIC STUDIES ON GRAIN-BOUNDARY PHASES IN SIA1ON CERAMICS

被引:1
作者
BISCHOFF, E
SZABO, DV
MADER, W
机构
[1] Mpi Für Metallforschung, Inst. F. Werkstoffwissenschaft, Stuttgart, 7000
关键词
D O I
10.1002/mawe.19900210305
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
Bei der Entwicklung mehrphasiger, hochleistungsfähiger und temperaturbeständiger keramischer Werkstoffe spielt die analytische Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) eine wichtige Rolle. Zwei sich ergänzende, quantitative Untersuchungsmethoden stehen dabei dem Materialwissenschaftler zur Verfügung. Die energiedispersive Röntgenanalyse [1] (EDX, energy dispersive X‐ray spectroscopy) eignet sich zum Nachweis und zur Ermittlung der Konzentrationen von mittelschweren bis schweren Elementen, während sich mit der Elektronenenergieverlustspektroskopie [2] (EELS, electron energy loss spectroscopy) gerade sehr leichte bis mittelschwere Elemente nachweisen und quantitativ erfassen lassen. Ein schneller, qualitativer Überblick über die Zusammensetzung des Materiales kann dabei mit beiden Methoden erhalten werden. Eine zuverlässige quantitative Analyse erfordert jedoch häufig Erfahrung und setzt die Einsicht in die physikalischen Grundlagen, die Möglichkeiten und Grenzen der Analyseverfahren voraus. So können diese Methoden bezüglich der Genauigkeit und Nachweisgrenze nicht mit anderen Verfahren wie z. B. der Röntgenfloureszenzanalyse (RFA) konkurrieren. Ein großer Vorteil ist jedoch das hohe räumliche Auflösungsvermögen, das Analysen von 10 bis 20 nm großen Bereichen gestattet. Copyright © 1990 Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim
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共 4 条
[1]  
Williams D.B., Practical Analytical Electron Microscopy in Material Science, (1984)
[2]  
Egerton R.F., Electron Energy Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, (1986)
[3]  
Progress in Nitrogen Ceramics, (1983)
[4]  
Bischoff E., (1986)