APPLICATIONS OF A MICROBEAM TO THE PROBLEM OF SOFT UPSETS IN INTEGRATED-CIRCUIT MEMORIES

被引：2

作者：

KNUDSON, AR

CAMPBELL, AB

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1983.4332496

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1232 / 1235

页数：4

共 6 条

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